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當(dāng)前位置：材料測試 ? 成分分析 ?

X射線光電子能譜（XPS）

99.3%

滿意度

X射線光電子能譜（XPS）

化學(xué)靈敏度高賽默飛聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室預(yù)存專享優(yōu)惠

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平均4個(gè)工作日完成

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XPS測試項(xiàng)目

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如有各類設(shè)備采購需求，請聯(lián)系專屬顧問。

馬騁

XRD、UPS、XPS、DLS、GIXRD、2D-WAXD、AFM-IR測試工程師

具有多年XPS、DLS等操作經(jīng)驗(yàn)。精通XPS技術(shù)在材料表征上的應(yīng)用，尤其在催化、電池材料的峰形處理方面具有豐富經(jīng)驗(yàn)和實(shí)操技能。同時(shí)，在DLS樣品制備和濃度效應(yīng)分析上有獨(dú)到的理解和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。

項(xiàng)目介紹

X射線光電子能譜法是一種表面分析方法，提供的是樣品表面的元素含量與形態(tài)。

如果輔以離子刻蝕手段，再利用XPS作為分析方法，則可以實(shí)現(xiàn)對樣品的深度分析。

一、XPS的特點(diǎn)

1. 可以分析除 H 和 He 以外的所有元素；

2. 提供有關(guān)化學(xué)鍵方面的信息，即直接測量價(jià)層電子及內(nèi)層電子軌道能級；

3. 是一種高靈敏超微量的表面分析技術(shù)，分析所需試樣量極少，樣品分析深度為0.5-10nm 。

二、XPS的應(yīng)用

1. 元素定性分析

2. 元素半定量分折

3. 固體表面分析

4. 化合物結(jié)構(gòu)鑒定

樣品要求

1. 預(yù)處理尺寸要求：塊體/片狀/薄膜：長寬厚不超出1 × 1 × 0.3 cm（磁性樣品盡量小，最好長寬小于5mm，厚度在2mm內(nèi)）（對塊狀樣品或薄膜樣品的測試面做好標(biāo)記）；粉末樣品大于200目，不少于10mg，量少的請用稱量紙包好再裝到管子里寄。請勿用手觸摸樣品表面，會(huì)引入污染；制好樣后請盡快密封，避免其他物質(zhì)污染；

2. 送樣前樣品需充分干燥，否則影響儀器真空度；高分子樣品在送樣前應(yīng)進(jìn)行干燥處理；若含有高揮發(fā)性分子等，請務(wù)必烘烤；

3. 樣品含有硫或碘等鹵族元素請務(wù)必填寫或者提前告知，避免污染高真空系統(tǒng)；

4. 樣品在超高真空及在X射線、紫外線、電子束或Ar離子束照射下應(yīng)穩(wěn)定，不分解、不釋放氣體。

項(xiàng)目案例