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當(dāng)前位置：材料測試 ? 成分分析 ?

靜態(tài)二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）

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靜態(tài)二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）

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項(xiàng)目介紹

二次離子質(zhì)譜SIMS是一種檢測固體表面及近表面的成分信息的技術(shù)，幾乎可以分析任何在真空中穩(wěn)定的固體。它不僅可以進(jìn)行全元素（從H到U）及同位素分析，同時(shí)還可以準(zhǔn)確地識別原子團(tuán)和官能團(tuán)，并對固體樣品進(jìn)行微區(qū)分析成像和深度動(dòng)態(tài)分析。

SIMS技術(shù)對材料表面、界面的元素、分子結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，分析深度可達(dá)到表面1-3nm，檢出限可達(dá)ppm級別。它可以對樣品進(jìn)行成像和成分定性鑒定，還可以實(shí)現(xiàn)三維成像、二維成像、質(zhì)譜分析等。

當(dāng)前，SIMS已被廣泛應(yīng)用于各種科學(xué)領(lǐng)域，包括半導(dǎo)體、生物、醫(yī)藥、化學(xué)、材料以及天體物理等研究領(lǐng)域。

樣品要求

1. 一般要求樣品無磁性，弱磁性樣品可以測試，無法測試強(qiáng)磁性樣品；

2. 粉末樣品至少為10mg；塊體樣品的尺寸小于1cm x 1cm x0. 8cm，最小幾毫米；

3. 若需獲取3D圖，需在選項(xiàng)中選擇，默認(rèn)情況下不提供；

4. 深度分析的具體測試費(fèi)用與深度、離子有關(guān)；

5. 如果測試需要與之前的條件相同，請務(wù)必提供之前的測試條件；

6. 正負(fù)離子測試是分開進(jìn)行的，測試時(shí)間獨(dú)立計(jì)算；

7. 務(wù)必在樣品非測試面上標(biāo)記“×”，僅在測試單上描述是不夠的；

8. 含鐵、鈷、鎳、錳、釕等磁性元素的樣品定義為磁性樣品；不能被強(qiáng)磁鐵吸引的樣品為弱磁樣品，能被強(qiáng)磁鐵吸引的樣品為強(qiáng)磁樣品；請仔細(xì)檢查樣品磁性，因隱瞞樣品信息導(dǎo)致儀器損壞，需要您承擔(dān)全部賠償責(zé)任；

注：深度分析測試時(shí)間為1500元/樣（1小時(shí)內(nèi)），超過1小時(shí)的部分將額外收取1000元/小時(shí)的費(fèi)用。不同離子、不同樣品的測試時(shí)間均不疊加計(jì)算。